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蔡司GeminiSEM 360是用于您分析測試平臺的理想設備，為材料和生命科學、工業領域提供了良好的功能性。憑借其Gemini 1電子光學鏡筒，GeminiSEM 360可為各種應用和樣品類型提供高分辨率成像及分析。

用于缺陷檢測的工業二維X射線解決方案專為在惡劣的生產環境中快速檢測缺陷而設計，堅固可靠。利用蔡司BOSELLO，自動或手動無損二維X射線檢測可確保高通量和生產率。快速裝卸載、循環時間短、應用靈活，可直接在線或在生產附近使用。

使用ZEISS METROTOM 1500 3D X射線系統，您可以獲得CT技術，通過捕捉和測量表面下的缺陷，可靠地檢測缺陷。這臺CT的特色：無論是小型或大型部件，以及介于兩者之間的所有部件，都能快速提供高分辨率圖像。

ZEISS BOSELLO OMNIA 二維X射線系統的自動缺陷識別軟件與自動化在線檢測相結合，確保了快速可靠的缺陷檢測，為您提供質量保證。

蔡司BOSELLO MAX 2D X射線檢測系統，可滿足您在生產環境中的缺陷檢測需求。我們專有的圖像處理算法和計算機斷層掃描增強技術可對各種鑄件進行檢測和全面分析。可靠的2D X射線技術可確保對各種工件進行清晰的檢測和質量控制，即使在極其惡劣的條件下也不例外。

PRISMO fortis橋式三坐標測量機采用優化的材料和全新開發的校正功能，可在高達40 °C的溫度下保證高精度。因此，該三坐標測量機也可直接用于生產環境。通過使用可選的蔡司VAST Rotary Table（ZVR），由于旋轉臺移動速度更快，可大幅縮短某些應用的測量時間。

蔡司MultiSEM 706超高速掃描電子顯微鏡，充分運用91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款獨特的掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續、可靠的運行。只需簡單設置高通量數據采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

蔡司Volutome掃描電子顯微鏡超薄切片機覆蓋了圖像處理、圖像分割和可視化過程，是一款包含軟硬件的端到端解決方案。傳統的SEM載物臺可輕松替換超薄切片機，將您的三維FE-SEM轉換為標準的多功能FE-SEM，使您的系統能夠適應多功能環境。